手機(jī)特殊條件測試試驗方法

手機(jī)特殊條件測試試驗方法

樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：4 臺。                                                    
測試周期：1 天。
1.1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
測試環(huán)境：-10°C；3臺手機(jī)；開機(jī)狀態(tài)。
試驗方法：將手機(jī)進(jìn)行電性能參數(shù)測試后處于開機(jī)狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出，進(jìn)行1.3米的６個面跌落，２個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
1.2. 扭曲測試（Twist Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺；開機(jī)狀態(tài)；2N·m力矩反復(fù)扭曲手機(jī)1000次。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.3. 坐壓測試（Squeeze Test）                                              
測試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺；開機(jī)狀態(tài)；45Kg力反復(fù)擠壓手機(jī)1000次
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.4. 鋼球跌落測試（Ball Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；2臺手機(jī)；100g鋼球20cm高垂直打擊鏡片表面。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點(diǎn)），LCD功能正常。